橫河 可見光和近紅外高性能光譜分析儀 AQ6373E

開發(fā)背景
光譜分析儀“AQ6373E"和“AQ6374E"基于我們在該領(lǐng)域40多年積累的技術(shù)和專業(yè)知識，專為可見光范圍內(nèi)的醫(yī)療、生物和材料加工應(yīng)用而設(shè)計它的開發(fā)是為了滿足在紅外波長范圍內(nèi)測量新型光學設(shè)備和組件不斷增長的需求。

在繼承現(xiàn)有型號“AQ6373B"和“AQ6374"的特點的同時，我們還提高了可操作性，這些型號具有高波長分辨率和寬近場動態(tài)范圍，被高度評價為激光光譜測量儀器。
其背景是，激光和LED等發(fā)光器件在醫(yī)療和生物領(lǐng)域的使用不斷擴大，在開發(fā)和制造過程中需要精確的光譜測量。

此外，在半導體制造領(lǐng)域，需要使用高性能光譜分析儀進行測量，以評估制造過程中使用的激光器的特性和質(zhì)量。

另一方面，現(xiàn)在平板電腦和智能手機已經(jīng)普及，任何想要通過觸摸操作對光譜分析儀進行各種操作或者不熟悉光譜分析儀的各種設(shè)置和功能的人都可以輕松地進行光譜分析儀的操作。需要能夠?qū)崿F(xiàn)這一點的功能。

橫河計量的“AQ6373E"和“AQ6374E"滿足了這些需求。

產(chǎn)品特點
光譜分析儀“AQ6373E"與當前型號“AQ6373B"一樣，覆蓋了從350 nm（納米，納米是十億分之一）到1,200 nm的測量波長范圍，

除了標準型號外，我們還提供三種型號：非常適合激光評估的高分辨率模型，以及針對生產(chǎn)線優(yōu)化的有限模型。 
光譜分析儀“AQ6374E"不僅可以用于評估激光器等發(fā)光器件，還可以用于評估光纖的特性。

它繼承了當前型號“AQ6374"的特點，將高光學性能與業(yè)界 的寬測量波長范圍（350 nm至1750 nm）相結(jié)合。
這兩款新型號現(xiàn)在都具有 APP（應(yīng)用程序）模式，旨在加快您的研發(fā)和生產(chǎn)測試任務(wù)。 

APP模式提供了特定于被測設(shè)備的測試應(yīng)用程序，可導航從設(shè)置測量條件到輸出分析結(jié)果的一系列操作。即使不熟悉光譜分析儀的客戶也能輕松使用。
此外，大尺寸液晶觸摸屏的使用，使操作更加簡單、直觀。

*近動態(tài)范圍：分離和測量接近被測光峰值光的光譜（邊模）的能力。
 

[主要市場]
醫(yī)療器械制造商、生物制造商、工業(yè)加工機械制造商、光纖制造商的開發(fā)部門和產(chǎn)品評價部門
大學和研究機構(gòu)

[應(yīng)用范圍]
各種激光、LED光源元件及使用其的光學元件開發(fā)和制造中的特性測試和
產(chǎn)品評估光纖開發(fā)和制造中的特性測試和產(chǎn)品評估